A.信噪比低 B.增大端部不可探區(qū) C.周向靈敏度不均 D.易磨損探頭
下圖為試件電導(dǎo)率變化引起線圈阻抗變化的軌跡,比較圖中A、B兩點(diǎn)的電導(dǎo)率應(yīng)為()。
A.σA=σB B.σA<σB C.σA>σB D.無(wú)關(guān)系
A.增加 B.減半 C.減小3/4 D.增加3倍