監(jiān)測(cè)基準(zhǔn)網(wǎng)點(diǎn)位穩(wěn)定性檢驗(yàn)方法有采用最小二乘平差的檢驗(yàn)方法、（）、采用最小二乘平差和數(shù)理統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)相結(jié)合的方法。

度盤刻劃誤差，可以按照（）變換水平度盤位置削弱該誤差影響。

精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑，則說(shuō)明光學(xué)部件有（）現(xiàn)象。

利用偽距作空間交會(huì)來(lái)定位點(diǎn)位的方法稱為（）

雙面水準(zhǔn)尺中，以下說(shuō)法正確的是（）。

設(shè)A點(diǎn)高程1279.25m，B點(diǎn)上安置經(jīng)緯儀，儀器高為1.43m，平距DAB=341.23m，觀測(cè)A點(diǎn)上覘標(biāo)高為4.0m的目標(biāo)得豎直角為-13°19′00″，則由此算得B點(diǎn)的高程為（）

下列誤差中，（）是水準(zhǔn)測(cè)量的主要儀器誤差。

載波相位測(cè)量如觀測(cè)過(guò)程中跟蹤衛(wèi)星信號(hào)沒有中斷，則初始時(shí)刻整周相位是未知數(shù)，通常為一個(gè)常數(shù)，稱為（）

精密經(jīng)緯儀的主軸線有視準(zhǔn)軸、（）、數(shù)軸和光學(xué)（激光）對(duì)中器視軸等。

精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測(cè)量高程時(shí)應(yīng)使用（）