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可焊接性差:主要由()、()、()、()和()導(dǎo)致。
答案:
引線材料缺陷;引線金屬鍍層不良;引線表面污染;腐蝕;氧化
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填空題
電參數(shù)漂移:主要原因是()、()等。
答案:
原材料缺陷;可移動離子引起的反應(yīng)
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填空題
機械磨損和封裝裂縫:主要由()和()等造成。
答案:
封裝工藝缺陷;環(huán)境應(yīng)力過大
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