單探頭法容易檢出（）。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。

調(diào)節(jié)時基線時，應(yīng)使（）同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。