對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。

某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）

二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變（）

光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化（）

康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括（）

超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是（）

調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。

使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）