A.工件中有大面積傾斜缺陷 B.工件材料晶粒粗大 C.工件中有密集缺陷 D.以上全部
A.與探測面平行的大平底面 B.R200的凹圓柱底面 C.R200的凹球底面 D.R200的凸圓柱底面
A.單斜探頭法 B.單直探頭法 C.雙斜探頭前后串列法 D.分割式雙直探頭法