A.單斜探頭法
B.單直探頭法
C.雙斜探頭前后串列法
D.分割式雙直探頭法
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A.波長的一半
B.一個波長
C.四分之一波長
D.若干個波長
A.聲阻抗小且粘度大的耦合劑
B.聲阻抗小且粘度小的耦合劑
C.聲阻抗大且粘度大的耦合劑
D.以上都不是
A.被檢工件厚度太大
B.工件底面與探測面不平行
C.耦合劑有較大聲能損耗
D.工件與試塊材質(zhì)，表面光潔度有差異
A.只有當聲束投射到整個缺陷發(fā)射面上才能得到反射回波最大值
B.只有當聲束沿中心軸線投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值
C.只有當聲束垂直投射到工件內(nèi)缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值
D.人為地將缺陷信號的最高回波規(guī)定為測定基準
A.聲束擴散損失
B.耦合損耗
C.工件幾何形狀影響
D.以上都是
最新試題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標準來確定。
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
用折射角β的斜探頭進行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
單探頭法容易檢出（）。
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
（）是影響缺陷定量的因素。
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。