單項(xiàng)選擇題在非擴(kuò)散區(qū)內(nèi)大平底距聲源距離增大1倍，其回波減弱（）
A、6db
B、12db
C、3db
D、0db
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1.單項(xiàng)選擇題上題探頭的非擴(kuò)散區(qū)長(zhǎng)度約為（）
A.34mm
B.63mm
C.45mm
D.以上都不對(duì)
2.單項(xiàng)選擇題Ф14mm，2.5MHZ直探頭在鋼中近場(chǎng)區(qū)為（）
A、27mm
B、21mm
C、38mm
D、以上都不對(duì)
3.單項(xiàng)選擇題直徑Ф12mm晶片5MHZ直探頭在鋼中的指向角是（）
A、5.6°
B、3.5°
C、6.8°
D、24.6°
4.單項(xiàng)選擇題晶片直徑D=20mm的直探頭，在鋼中測(cè)得其零輻射角為10°，該探頭探測(cè)頻率約為（）
A、2.5MHZ
B、5MHZ
C、4MHZ
D、2MHZ
5.單項(xiàng)選擇題波束擴(kuò)散角是晶片尺寸和傳播介質(zhì)中聲波波長(zhǎng)的函數(shù)并且隨（）
A.頻率增加，晶片直徑減小而減小
B.頻率或晶片直徑減小而增大
C.頻率或晶片直徑減小而減小
D.頻率增加，晶片直徑減小而增大
最新試題
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
儀器水平線性影響（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題