單項(xiàng)選擇題膠片特性曲線上兩個(gè)特定黑度點(diǎn)的（）是對(duì)比度的平均梯度。
A.距離
B.連線
C.直線斜率
D.以上都不是
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1.單項(xiàng)選擇題在選用透照參數(shù)時(shí)，曝光量應(yīng)（）。
A.不大于曝光曲線推薦的最小值
B.不小于曝光曲線推薦的最小值
C.不小于曝光曲線推薦的最大值
D.以上都不是
2.單項(xiàng)選擇題膠片特性曲線上兩個(gè)特定黑度點(diǎn)的直線斜率是（）。
A、曲線的梯度
B、寬容度
C、對(duì)比度的平均梯度
D、黑度
3.單項(xiàng)選擇題射線照相的靈敏度受（）影響。
A.射線的能量
B.幾何因素與膠片粒度
C.膠片的反差系數(shù)
D.A、B和C
4.單項(xiàng)選擇題如曝光量增加1倍，底片黑度增加0.09，該膠片反差系數(shù)為（）。
A.2
B.0.45
C.3
D.2.2
5.單項(xiàng)選擇題用10Ci的銥192放射源在野外對(duì)距其1m處厚20mm的鋼進(jìn)行透照拍片，已知該射源的電離常數(shù)為0.6rhm/Ci，對(duì)鋼的半值層為10mm，為了獲得2.0黑度的底片需要曝光（）。
A.10min
B.20min
C.30min
D.40min
最新試題
對(duì)滲透探傷無(wú)影響的是（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
冷裂紋常見(jiàn)的有（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
滲透檢測(cè)時(shí)，滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi)，將受檢部位置于合適的光源（發(fā)光強(qiáng)度足夠）下檢查時(shí)，下列說(shuō)法正確的有（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
單晶體金屬特點(diǎn)有（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí)，（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
在沒(méi)有外加磁場(chǎng)作用時(shí)，鐵磁性材料內(nèi)出現(xiàn)（）現(xiàn)象。
題型：多項(xiàng)選擇題
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
滲透劑檢測(cè)壓力噴灌的存放應(yīng)避免（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
將彎曲液面對(duì)液體的壓強(qiáng)與平面液面對(duì)液體的壓強(qiáng)相比，任何液面膜對(duì)液體施以附加壓強(qiáng)，下面描述正確的是（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí)，缺陷定位說(shuō)法正確的有（）。
題型：多項(xiàng)選擇題