多項(xiàng)選擇題

用雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭（）。

A.隔聲層與缺陷延伸方向平行
B.隔聲層與缺陷延伸方向垂直
C.垂直與缺陷延伸方向移動(dòng)
D.平行與缺陷延伸方向移動(dòng)

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