A.試件厚度差 B.射線的質(zhì) C.散射線 D.以上均不對(duì)
A.其檢測(cè)靈敏度一般較X射線照相法低 B.對(duì)形狀復(fù)雜的零件檢查有困難 C.初始投入較高,設(shè)備較復(fù)雜 D.以上都對(duì)