A.其檢測(cè)靈敏度一般較X射線照相法低 B.對(duì)形狀復(fù)雜的零件檢查有困難 C.初始投入較高,設(shè)備較復(fù)雜 D.以上都對(duì)
A.大焦點(diǎn)、可變電位 B.大焦點(diǎn)、恒電位 C.小焦點(diǎn)、恒電位 D.以上都不對(duì)