問(wèn)答題敘述H2還原SiCl4外延的原理,寫(xiě)出化學(xué)方程式。
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最新試題
門(mén)陣列的基本結(jié)構(gòu)形式有兩種:一種是晶體管陣列,一種是門(mén)陣列()
題型:判斷題
場(chǎng)效應(yīng)晶體管的柵源電壓變化可以控制漏電流變化。()
題型:判斷題
單晶是原子或離子沿著三個(gè)不同的方向按一定的周期有規(guī)則的排列,并沿一致的晶體學(xué)取向所堆垛起來(lái)的遠(yuǎn)程有序的晶體。()
題型:判斷題
位錯(cuò)就是由范性形變?cè)斐傻?,它可以使晶體內(nèi)的一原子或離子脫離規(guī)則的周期排列而位移一段距離,位移區(qū)與非位移區(qū)交界處必有原子的錯(cuò)位,這樣產(chǎn)生線缺陷稱為位錯(cuò)。()
題型:判斷題
退火處理能使金絲和硅鋁絲的抗斷強(qiáng)度下降。()
題型:判斷題
晶體的特點(diǎn)是在各不同晶向上的物理性能、機(jī)械性能、化學(xué)性能都相同。()
題型:判斷題
值稱為共發(fā)射極電流放大系數(shù),是晶體管的一個(gè)重要參數(shù),也是檢驗(yàn)晶體管經(jīng)過(guò)硼、砷摻雜后的兩個(gè)pn結(jié)質(zhì)量?jī)?yōu)劣的重要標(biāo)志。()
題型:判斷題
光刻工藝要求掩膜版圖形黑白區(qū)域之間的反差要低。()
題型:判斷題
片狀源擴(kuò)散具有設(shè)備簡(jiǎn)單,操作方便,晶片缺陷少,均勻性、重復(fù)性和表面質(zhì)量都較好,適于批量生產(chǎn),應(yīng)用越來(lái)越普遍。()
題型:判斷題
厚膜元件材料的粉末顆粒越小、表面形狀謦復(fù)雜,比表面積就越大,則表面自由能也就越高,對(duì)燒結(jié)越有利。()
題型:判斷題