A.200nm
B.365nm
C.400nm
D.沒(méi)有要求
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A.滲透檢測(cè)方法比渦流檢測(cè)方法靈活性小
B.對(duì)于鐵磁性材料的表面缺陷,滲透檢測(cè)方法不如磁粉檢測(cè)方法可靠
C.滲透檢測(cè)方法不能發(fā)現(xiàn)疲勞裂紋
D.對(duì)于微小的表面缺陷,滲透檢測(cè)方法比射線照相檢測(cè)方法可靠
A.酸洗
B.打磨
C.噴砂
D.蒸汽去除
A.溶劑去除型熒光滲透法
B.溶劑去除型著色滲透法
C.后乳化型熒光滲透法
D.水洗型著色滲透法
A.細(xì)長(zhǎng)形
B.球形
C.扁形
D.a與d混合物
E.b或d
A.250A
B.500A
C.1000A
D.以上都不對(duì)
最新試題
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。