A、等比
B、等差
C、指數(shù)
D、幾何級(jí)數(shù)
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A、線(xiàn)狀透度計(jì)難以看得清
B、孔型透度計(jì)容易看得清
C、線(xiàn)狀透度計(jì)容易看得清
D、二者都一樣
A、要知道X射線(xiàn)和γ射線(xiàn)的穿透性好壞
B、要知道所透照的底片質(zhì)量好壞
C、測(cè)量缺陷的位置和大小
D、確定曝光條件
A、像質(zhì)計(jì)
B、透度計(jì)
C、以上都對(duì)
A、確定可檢出的裂紋與氣孔的尺寸
B、確定可檢出的裂紋深度
C、確定臨界裂紋尺寸
D、指示射線(xiàn)照相技術(shù)質(zhì)量
A、由儀器廠(chǎng)商校準(zhǔn)
B、階梯塊
C、已知黑度的底片
D、以上都是
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最新試題
與直探頭相比,雙晶探頭()
水浸式垂直探傷鋼板時(shí),超聲波進(jìn)入工件內(nèi)傳播的有()
在探傷靈敏度確定后,缺陷的當(dāng)量大?。ǎ?/p>
關(guān)于圓晶片輻射的超聲波,下列說(shuō)法正確的是()(S為傳播距離,N為近場(chǎng)長(zhǎng)度)。
采用X射線(xiàn)機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí),焦距為1m,曝光時(shí)間為6min,其余條件均不變,曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為()
關(guān)于聲波的指向性和指向角,正確的是()
關(guān)于聲壓往復(fù)透射率,以下敘述正確的是()
下列關(guān)于IIW試塊的說(shuō)法,正確的是()
射線(xiàn)照像底片產(chǎn)生黃色灰霧,其原因是()
表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是()