A、要知道X射線和γ射線的穿透性好壞
B、要知道所透照的底片質(zhì)量好壞
C、測(cè)量缺陷的位置和大小
D、確定曝光條件
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A、像質(zhì)計(jì)
B、透度計(jì)
C、以上都對(duì)
A、確定可檢出的裂紋與氣孔的尺寸
B、確定可檢出的裂紋深度
C、確定臨界裂紋尺寸
D、指示射線照相技術(shù)質(zhì)量
A、由儀器廠商校準(zhǔn)
B、階梯塊
C、已知黑度的底片
D、以上都是
A、應(yīng)使用另一校準(zhǔn)過(guò)的黑度計(jì)來(lái)校準(zhǔn)
B、應(yīng)使用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局的黑度計(jì)來(lái)校準(zhǔn)
C、應(yīng)使用已知黑度的底片加以校準(zhǔn)
D、應(yīng)使用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局的底片加以校準(zhǔn)
A.X射線的強(qiáng)度
B.底片的黑度
C.材料的密度
D.輻射劑量
最新試題
射線經(jīng)過(guò)一個(gè)半價(jià)層后，其（）衰減一半。
選擇滲透探傷方法時(shí)，對(duì)于疲勞裂紋、磨削裂紋及其它微小裂紋應(yīng)優(yōu)先選用（）
水浸式垂直探傷鋼板時(shí)，超聲波進(jìn)入工件內(nèi)傳播的有（）
下列關(guān)于IIW試塊的說(shuō)法，正確的是（）
顯示試件某一縱斷面的聲象的顯示方式為（）
關(guān)于近場(chǎng)長(zhǎng)度的說(shuō)法，正確的是（）
關(guān)于圓晶片輻射的超聲波，下列說(shuō)法正確的是（）（S為傳播距離，N為近場(chǎng)長(zhǎng)度）。
感應(yīng)電流法磁化工件主要采用（）
下列磁化方法中容易計(jì)算工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度的是（）
關(guān)于聲壓往復(fù)透射率，以下敘述正確的是（）