填空題超聲波檢測中,采用橫軸表示實(shí)際聲程,縱軸表示規(guī)則反射體相對波高的坐標(biāo)曲線是描述()、()、()之間關(guān)系的曲線,又稱實(shí)用AVG曲線,在調(diào)節(jié)()和對缺陷()中得到了廣泛應(yīng)用

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2.單項(xiàng)選擇題由于工件表面與試塊的表面粗糙度不一致,因此在超聲波探傷時(shí)應(yīng)考慮()

A、通過機(jī)械加工使工件表面與試塊表面的光潔度一致
B、補(bǔ)償因表面耦合損耗而引起的分貝差值
C、采用黃油作耦合劑
D、以上都不是

3.單項(xiàng)選擇題焊縫用串列探頭進(jìn)行掃查,主要用于檢測()

A、平行于探測面的缺陷
B、與探測面傾斜的缺陷
C、垂直于探測面的缺陷
D、不能用斜探頭檢測的缺陷

4.單項(xiàng)選擇題斜探頭在磨平的焊縫上進(jìn)行掃查,主要用于檢測()

A、縱向缺陷
B、橫向缺陷
C、表面缺陷
D、以上都是

5.單項(xiàng)選擇題鍛件超聲波探傷時(shí),探測靈敏度的校驗(yàn)可以使用()

A、AVG曲線
B、參考試塊
C、工件的大平底
D、以上都是

最新試題

像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

對于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。

題型:判斷題

對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()

題型:單項(xiàng)選擇題

下面給出的射線檢測基本原理中,正確的是()。

題型:單項(xiàng)選擇題

觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。

題型:判斷題

對焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。

題型:判斷題

超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測。

題型:判斷題

焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。

題型:單項(xiàng)選擇題

一次完整的補(bǔ)焊過程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。

題型:判斷題

對于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()

題型:單項(xiàng)選擇題