A、下表面局部有凹坑造成厚度有變化
B、有缺陷存在
C、以上兩種情況都有可能
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A、Φ1.2-25mm
B、Φ1.2-30mm
C、Φ1.2-40mm
D、Φ1.2-50mm
A、厚度大于等于三倍近場長度，工件表面光潔度大于等于3.2μm，探測面與底面平行
B、厚度大于等于三倍近場長度，工件表面粗糙，探測面與底面平行
C、厚度小于等于三倍近場長度，工件表面粗糙，探測面與底面不平行
A、大于Φ2mm平底孔
B、小于Φ2mm平底孔
C、等于Φ2mm平底孔
A、平底孔
B、粗細(xì)均勻的長條形缺陷
C、粗細(xì)不均勻的長條形缺陷
A、工作頻率
B、探頭和儀器參數(shù)
C、耦合條件與狀態(tài)
D、探測面
E、材質(zhì)衰減
F、以上都是
最新試題
為了提高射線照相對比度，可以采用高電壓、短時間、大管電流的方式曝光。
缺陷分類應(yīng)符合驗收標(biāo)準(zhǔn)的要求，標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷，必要時可予以注明供有關(guān)人員參考，但不作為合格與否判定的依據(jù)。
探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進行應(yīng)立即（）。
提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家（）
對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管，影響其阻抗變化的因素有（）
一次完整的補焊過程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù)，直至缺陷完全排除。
X射線檢測圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確，因此焊接缺陷無論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量，因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
對于厚度變化較大的變截面工件透照，只要底片黑度符合GJB1187A的要求時，就可采用多膠片技術(shù)。
X射線檢驗人員負(fù)責(zé)對需排除的超標(biāo)缺陷實施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注，確保定位準(zhǔn)確。