設(shè)A點(diǎn)高程1279.25m，B點(diǎn)上安置經(jīng)緯儀，儀器高為1.43m，平距DAB=341.23m，觀測(cè)A點(diǎn)上覘標(biāo)高為4.0m的目標(biāo)得豎直角為-13°19′00″，則由此算得B點(diǎn)的高程為（）

衡量地形圖測(cè)量的技術(shù)指標(biāo)主要有地物點(diǎn)的（）、等高線插求點(diǎn)的高程中誤差、細(xì)部點(diǎn)的平面和高程中誤差以及地形點(diǎn)的最大點(diǎn)位間距。

偽距測(cè)量缺點(diǎn)有時(shí)間不宜測(cè)準(zhǔn)和（）

精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑，則說明光學(xué)部件有（）現(xiàn)象。

度盤刻劃誤差，可以按照（）變換水平度盤位置削弱該誤差影響。

下列誤差中，（）是水準(zhǔn)測(cè)量的主要儀器誤差。

監(jiān)測(cè)基準(zhǔn)網(wǎng)點(diǎn)位穩(wěn)定性檢驗(yàn)方法有采用最小二乘平差的檢驗(yàn)方法、（）、采用最小二乘平差和數(shù)理統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)相結(jié)合的方法。

利用偽距作空間交會(huì)來定位點(diǎn)位的方法稱為（）

GPS-RTK測(cè)圖時(shí)作業(yè)要求有PDOP值應(yīng)小于（）。

（）常采用獨(dú)立坐標(biāo)系統(tǒng)。