A.探頭型式 B.晶片尺寸 C.波束方向 D.上述都有
A.耦合劑特性 B.耦合層厚度 C.溫度及界面反射率 D.上述都有
A.缺陷形狀、取向和尺寸 B.缺陷性質(zhì) C.缺陷反射率 D.上述都有