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單項(xiàng)選擇題
靠近探頭的長條形缺陷并不一定都能測到,因?yàn)椋ǎ?/h4>
A、聲束擴(kuò)散
B、材質(zhì)衰減
C、儀器阻塞效應(yīng)
D、折射
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單項(xiàng)選擇題
容易探測到的缺陷尺寸一般不小于()。
A、波長的一半
B、1個(gè)波長
C、1/4波長
D、若干波長
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單項(xiàng)選擇題
鍛件中缺陷的取向通常為()。
A、雜亂
B、平行于晶粒流向
C、垂直于晶粒流向
D、與晶粒流向成45°角
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