單項(xiàng)選擇題

容易探測(cè)到的缺陷尺寸一般不小于（）。

A、波長(zhǎng)的一半
B、1個(gè)波長(zhǎng)
C、1/4波長(zhǎng)
D、若干波長(zhǎng)

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單項(xiàng)選擇題

鍛件中缺陷的取向通常為（）。

A、雜亂
B、平行于晶粒流向
C、垂直于晶粒流向
D、與晶粒流向成45°角

單項(xiàng)選擇題

在檢驗(yàn)零件時(shí)，若無缺陷顯示，則操作者應(yīng)注意底面回波高度的劇烈下降，引起這種情況的原因（）。

A、可能是疏松
B、可能是大晶粒
C、可能是大而平的缺陷與入射聲束取向不良
D、上述三種都可能