A.粗晶散射
B.對(duì)聲能的粘滯吸收極強(qiáng)
C.用高頻時(shí)有草叢回法
D.三種原因都有
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A.垂直平探頭
B.高頻斜探頭
C.縱波雙晶探頭
D.三種探頭都可以
A.1/2
B.1/3
C.4倍
D.1/5
A.確定缺陷位置
B.確定缺陷的取向
C.減少草叢回波
D.上述三種優(yōu)點(diǎn)都具備
A.高于20兆赫
B.低頻
C.等于重復(fù)頻率
D.高于紫外線的頻率
A.一致
B.不一致
C.儀器的帶寬小于探頭的頻譜寬度
D.上述三種都可以
最新試題
()是影響缺陷定量的因素。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測(cè)長方法稱為()。
單探頭法容易檢出()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。