A.高于20兆赫
B.低頻
C.等于重復(fù)頻率
D.高于紫外線的頻率
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.一致
B.不一致
C.儀器的帶寬小于探頭的頻譜寬度
D.上述三種都可以
A.缺陷深度大于人工傷深度
B.缺陷深度一定等于人工傷深度
C.缺陷的超聲波響應(yīng)相當(dāng)于人工傷的超聲響應(yīng)
D.缺陷深度小于人工傷深度
A.S形
B.U形
C.斜狀
D.圓孔
A.作為參考，最終判廢應(yīng)將熒光屏上觀察到的缺陷與標(biāo)準(zhǔn)傷比較，決定成廢
B.作為判廢標(biāo)準(zhǔn)
C.有缺陷就報(bào)廢
D.大于人工傷幅度的就報(bào)廢
A.0.1~0.5
B.<1
C.1~3
D.何范圍內(nèi)都可以
最新試題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
儀器水平線性影響（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。