（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

在對缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。

檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。

用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。

單探頭法容易檢出（）。

移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。

超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。