A.必須保證可以順利進(jìn)行探測 B.清除銹斑和污物 C.表面應(yīng)達(dá)到軋制工藝所達(dá)到的平整度 D.上述條件都應(yīng)具備
A.缺陷越大,AVG曲線越適用 B.越接近探頭的區(qū)域,AVG曲線越準(zhǔn)確 C.從AVG曲線上確定的缺陷當(dāng)量與實際缺陷完全一致 D.在AVG曲線上,由于探頭附近的種種干擾,限制了這一距離內(nèi)的缺陷回波的辯認(rèn)或評定, 因而存在最小可測距離的限制
A.缺陷自身的形狀與人工缺陷不同 B.缺陷的方向有隨機(jī)性 C.缺陷的表面狀態(tài)及組成介質(zhì)與人工缺陷不同 D.上述原因全有