A.缺陷自身的形狀與人工缺陷不同 B.缺陷的方向有隨機性 C.缺陷的表面狀態(tài)及組成介質(zhì)與人工缺陷不同 D.上述原因全有
A.螢光屏上剛剛顯示出來 B.回波高度飽和 C.螢光屏滿高度的50%~80% D.以上全都可以
A.取界面波與第一次底波間的聲程。 B.最后兩次底波間的聲程。 C.取底面回波次數(shù)愈多,測定結(jié)果的精度愈高。 D.取第三次與第四次底波間的聲程。