A.>160mm
B.>240mm
C.>320mm
D.以上都不是
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A.50×50mm2
B.100×100mm2
C.317×317mm2
D.447×447mm2
A.6dB法
B.絕對(duì)靈敏度法
C.以上A或B
D.以上A和B
A.平面型缺陷
B.非平面型缺陷
C.以上A或B
D.以上都不是
A.三級(jí)
B.四級(jí)
C.五級(jí)
D.以上都不是
A.JB/2Q6109-84
B.GB/T7233-87
C.JB4730-94
D.以上都是
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最新試題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
()是影響缺陷定量的因素。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。