A.JB/2Q6109-84
B.GB/T7233-87
C.JB4730-94
D.以上都是
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A.缺陷回波幅度的等于或大于距離波幅曲線的位置
B.底面回?fù)芊冉档?2dB或12dB以上的位置
C.不論缺陷回波幅度的大小,凡出現(xiàn)線狀和片狀缺陷顯示的位置
D.以上都是
A.<15°
B.<20°
C.<25°
D.<30°
A.10%
B.15%
C.20%
D.以上都可以
A.2dB
B.4dB
C.6dB
D.8dB
A.≤3.2μm
B.≤6.3μm
C.≤1.25μm
D.≤10μm
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最新試題
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
()是影響缺陷定量的因素。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測(cè)長方法稱為()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
儀器水平線性影響()。
單探頭法容易檢出()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。