A.折疊
B.白點(diǎn)
C.裂紋
D.以上都有
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A.3.0~2.0
B.2.5~2.0
C.2.0~1.0
D.以上都不是
A.>120~400mm
B.>46~120mm
C.>15~46mm
D.8~15mm
A.調(diào)整補(bǔ)償
B.傳輸損失補(bǔ)償
C.聲程補(bǔ)償
D.以上都不是
A.3dB
B.6dB
C.9dB
D.12dB
A.3.0~2.0
B.2.5~1.5
C.2.0~1.0
D.以上都不是
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最新試題
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
單探頭法容易檢出()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。