A.>120~400mm
B.>46~120mm
C.>15~46mm
D.8~15mm
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A.調(diào)整補(bǔ)償
B.傳輸損失補(bǔ)償
C.聲程補(bǔ)償
D.以上都不是
A.3dB
B.6dB
C.9dB
D.12dB
A.3.0~2.0
B.2.5~1.5
C.2.0~1.0
D.以上都不是
A.Ø1x6-9dB
B.Ø1x6-6dB
C.Ø3-4dB
D.Ø1x6+10dB
A.Ø1x6mm
B.Ø2x40mm
C.Ø3mm
D.以上都不是
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最新試題
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
儀器水平線性影響()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。