單項(xiàng)選擇題鍛件中缺陷的取向通常為（）
A.雜亂
B.平行于晶粒流向
C.垂直線與晶粒流向之間
D.與晶粒流向成45º角
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1.單項(xiàng)選擇題開槽的超聲參考試塊可用于（）
A.確定缺陷深度
B.評(píng)定表面缺陷
C.作為評(píng)定長(zhǎng)條形缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
D.作評(píng)定點(diǎn)狀缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
2.單項(xiàng)選擇題在水浸檢驗(yàn)中，探頭與試件水距（）
A.應(yīng)盡可能減小
B.使二次界面波在底面回波之前
C.使二次界面波在底面回波之后
D.應(yīng)盡可能的大
3.單項(xiàng)選擇題超聲波從材料1進(jìn)入材料2；隨聲阻比Z/Z的增大而透過的聲壓（）
A.減小
B.增大
C.不變
D.可增大或減小
4.單項(xiàng)選擇題一個(gè)經(jīng)校正的超聲探測(cè)系統(tǒng)，從鋁試塊中深度為75mm，直徑為4mm平底孔上得到50mm的波高顯示，在檢驗(yàn)鋁鍛件時(shí)，表面狀態(tài)和材質(zhì)，都與試塊相同，若從深度為75mm處得到50mm波高顯示，則缺陷的面積可能是（）
A.與直徑4mm 的平底孔的面積相同
B.大于直徑4mm平底孔的面積
C.稍小于直徑4mm平底孔的面積
D.約為直徑4mm平底孔的面積
5.單項(xiàng)選擇題在A型掃描顯示中，電子束在陰極管射線管熒光屏上均勻重復(fù)移動(dòng)所形成的水平線 叫做（）
A.方波圖形
B.掃描線
C.標(biāo)志圖形
D.上述三種都不對(duì)
最新試題
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
（）是影響缺陷定量的因素。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
儀器水平線性影響（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
單探頭法容易檢出（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題