以下試塊中，能用于測定縱波直探頭分辨力的是（）

底片清晰度與增感屏顆粒度的關系是（）

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測的是（）

某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

底片清晰度與膠片顆粒度的關系是（）

底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關系是（）

下列對耦合劑應該具有的特點的描述，不正確的一項是（）

光電效應發(fā)生的機率隨什么變化（）

一個均勻的輻射光束強度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質，其強度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

射線照片上細節(jié)影像的可識別性主要決定于（）