一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

發(fā)生康普頓散射的條件是（）

一般認(rèn)為表面波探測的有效深度約為（）

探頭的分辨力（）

調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。

二次波檢測是一種特殊的檢測工藝，以下關(guān)于二次波檢測的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）

對軸類鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）

超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是（）

底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）