A.負(fù)膠
B.正膠
C.光刻膠
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A.套準(zhǔn)精度
B.特征尺寸
C.分辨率
D.工藝寬容度
晶圓加工的基本流程順序?yàn)椋ǎ?br/>(1)切片
(2)外形整理
(3)研磨
(4)倒角
(5)清洗
(6)拋光
A.(1)(2)(3)(4)(5)(6)
B.(2)(1)(4)(3)(6)(5)
C.(1)(2)(4)(3)(5)(6)
D.(2)(1)(3)(4)(6)(5)
A.等離子去膠
B.溶劑去膠
C.氧化去膠
D.三氯乙烯去膠
下圖屬于什么光刻機(jī)?()
A.接觸式光刻機(jī)
B.步進(jìn)掃描光刻機(jī)
C.分布重復(fù)光刻機(jī)
D.接近式光刻機(jī)
A.局部氧化隔離
B.PN結(jié)隔離
C.PN結(jié)-介質(zhì)隔離
D.淺槽隔離
最新試題
鍵合點(diǎn)根部容易發(fā)生微裂紋,原因可能是鍵合操作中機(jī)械疲勞,也可能是溫度循環(huán)導(dǎo)致熱應(yīng)力疲勞。
下面選項(xiàng)中硅片減薄技術(shù)正確的是()。
下列對(duì)焊接可靠性無影響的是()。
以下不屬于打碼目的的是()。
下面關(guān)于BGA的特點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
鍵合工藝失效,,鍵合點(diǎn)尾絲不一致,可能產(chǎn)生的原因有()。
QFP的結(jié)構(gòu)形式因帶有引線框(L/F),對(duì)設(shè)定的電性能無法調(diào)整,而BGA可以通過芯片片基結(jié)構(gòu)的變更,得到所需的電性能。
引線鍵合的參數(shù)主要包括()。
根據(jù)焊點(diǎn)的形狀,引線鍵合有兩種形式,分別是()。
因?yàn)镼FP封裝的可靠性高,且其封裝外形尺寸較小,寄生參數(shù)減小,故多用于高頻電路、音頻電路、微處理器、電源電路。