儀器時基線調節(jié)比例時，若回波前沿沒有對準相應垂直刻度或讀數不準，會使缺陷定位誤差增加。

檢測曲面工件時，探頭與工件接觸有兩種情況，一是平面與曲面接觸，另一種是將探頭斜楔磨成曲面，探頭與工件曲面接觸。

高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼，電纜為無機物絕緣體高溫同軸電纜。

對于圓柱體而言，外圓徑向檢測實心圓柱體時，入射點處的回波聲壓實際上由于圓柱面耦合不及平面，因而其回波高于平底面，會使定量誤差增加。

高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊，使之形成高溫耦合層。

在檢測晶粒粗大和大型工件時，應測定材料的衰減系數，計算時應考慮介質衰減的影響。

衍射時差法對缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。

缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準反射體聲壓之比。

非金屬夾雜等缺陷的聲阻抗與鋼的聲阻抗相差很小，聲波在缺陷上的透射和吸收明顯高于白點和氣孔等缺陷。

水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。