A.水與金屬的阻抗比
B.水與金屬的相對(duì)聲速
C.超聲波的頻率
D.水與金屬的密度比
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你可能感興趣的試題
A.把X切割石英直接放在材料表面并通過(guò)油膜耦合
B.利用試件相對(duì)側(cè)面上的兩個(gè)轉(zhuǎn)換器
C.把球面聲透鏡放在轉(zhuǎn)換器表面上
D.把轉(zhuǎn)換器安裝在塑料斜楔上，使聲束以某個(gè)角度進(jìn)入工作
A.鋯鈦酸鉛
B.石英
C.鎳
D.鈦酸鋇
A.電路圖
B.設(shè)計(jì)圖
C.方塊圖
D.上述3種都不對(duì)
A.折射率
B.超聲波的頻率
C.楊氏摸量
D.聲阻抗
A.用縱波垂直于接口發(fā)射到零件中去
B.用兩種不同震動(dòng)頻率的芯片
C.用Y切割石英晶體
D.適當(dāng)?shù)膬A斜探頭
最新試題
對(duì)于橫波斜探頭而言，不同K值的探頭的靈敏度不同，因此探頭K值偏差也會(huì)影響缺陷的定量。
儀器時(shí)基線調(diào)節(jié)比例時(shí)，若回波前沿沒(méi)有對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準(zhǔn)，會(huì)使缺陷定位誤差增加。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼，電纜為無(wú)機(jī)物絕緣體高溫同軸電纜。
為了減少側(cè)壁的影響，必要時(shí)可采用試塊比較法進(jìn)行定量，以便提高定量精度。
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊，使之形成高溫耦合層。
電磁超聲探頭在工件的表層內(nèi)產(chǎn)生的渦流，在外加磁場(chǎng)的作用下，在工件中形成超聲波波源。
動(dòng)態(tài)范圍的最小信號(hào)可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
衍射時(shí)差法對(duì)缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。
在檢測(cè)晶粒粗大和大型工件時(shí)，應(yīng)測(cè)定材料的衰減系數(shù)，計(jì)算時(shí)應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。
衍射時(shí)差法探傷，當(dāng)有缺陷存在時(shí)，在直通波和底面反射波之間，接收探頭會(huì)接收到缺陷處產(chǎn)生的衍射波。