填空題原子力顯微鏡(AFM)與掃描隧道顯微鏡(STM)最大的差別在于并非利用電子(),而是檢測原子之間的()等來呈現(xiàn)樣品的表面特性。
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最新試題
利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析,包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。
題型:判斷題
變形振動(dòng)分為()。
題型:多項(xiàng)選擇題
關(guān)于X射線衍射儀的測量動(dòng)作,說法正確的是()。
題型:多項(xiàng)選擇題
晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的()。
題型:多項(xiàng)選擇題
差熱分析中,若試樣沒有熱效應(yīng)時(shí),記錄儀所記錄的ΔT曲線,為水平直線,稱為()。
題型:單項(xiàng)選擇題
關(guān)于stokes線和anti-Stokes線,說法正確的是()。
題型:多項(xiàng)選擇題
掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。
題型:判斷題
利用電子探針的波譜儀,一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的,因此一個(gè)分光晶體只能檢測一定原子序數(shù)范圍的元素。
題型:判斷題
透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)()的位置來實(shí)現(xiàn)的。
題型:單項(xiàng)選擇題
粉末多晶樣品中,不同晶面指數(shù)的倒易點(diǎn)分布在()半徑的倒易球上。
題型:單項(xiàng)選擇題