多項(xiàng)選擇題

以下關(guān)于可測性設(shè)計(jì)的描述中，哪些是正確的（）。

A.可測性設(shè)計(jì)就是在設(shè)計(jì)階段考慮測試因素，犧牲一部分芯片面積換得測試的容易化
B.可測性設(shè)計(jì)使用自動生成工具（ATPG），易于生成故障覆蓋率高的測試模式
C.可測性設(shè)計(jì)由于增加了設(shè)計(jì)負(fù)荷，將一定導(dǎo)致芯片整體開發(fā)成本的增加
D.可觀察性與可控制性是衡量可測性設(shè)計(jì)的兩個(gè)尺度

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