A.按照附錄F 的規(guī)定測(cè)定聲能傳輸損耗差。B.對(duì)缺陷進(jìn)行定量檢測(cè)時(shí),以掃查靈敏度測(cè)定。C.用絕對(duì)靈敏度法測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度。D.指示長(zhǎng)度小于10mm 的缺陷按5mm 計(jì)。
A.直探頭檢測(cè)波高為φ2mm+5dB 評(píng)為II 級(jí),B.斜探頭檢測(cè)波高為φ1×6-6dB 評(píng)為II 級(jí),C.直探頭檢測(cè)波高為φ2mm+8dB 評(píng)為I 級(jí),D.斜探頭檢測(cè)波高為φ1×6-2dB 評(píng)為II 級(jí),
A.采用晶片直徑為φ20mm 的探頭對(duì)環(huán)縫檢測(cè),對(duì)比試塊的曲率半徑應(yīng)在76mm~126mm 之間。B.采用晶片直徑為φ14mm 的探頭對(duì)環(huán)縫檢測(cè),對(duì)比試塊的曲率半徑應(yīng)在76mm~126mm 之間。C.采用晶片直徑為φ18mm 的探頭對(duì)環(huán)縫檢測(cè),對(duì)比試塊的曲率半徑可為100mm。D.采用晶片直徑為φ22mm 的探頭對(duì)環(huán)縫檢測(cè),對(duì)比試塊的曲率半徑可為84mm。