1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

每種晶體物質都有自己特定的晶體結構，晶體結構不同則X射線衍射花樣也就各不相同。

根據衍襯運動學原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調節(jié)（）的位置來實現(xiàn)的。

簡單立方結構材料發(fā)生衍射時，可以產生衍射的晶面為（）。

熱分析技術中，試樣用量越多，熱效應大，內部傳熱慢，溫度梯度大，導致峰形擴大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

在熱分析技術中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

利用電子探針對材料微區(qū)成分進行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

在體心點陣中，當（HKL）晶面的H+K+L為奇數時，產生系統(tǒng)消光。