問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】如何判斷CT機(jī)陣列處理器故障引起的環(huán)形偽影？

答案： 當(dāng)CT機(jī)因陣列處理機(jī)系統(tǒng)（AP）引起環(huán)形偽影，運(yùn)行AP診斷程序時(shí)均能發(fā)現(xiàn)問(wèn)題。
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【簡(jiǎn)答題】第三代CT機(jī)產(chǎn)生多環(huán)狀偽影原因在數(shù)據(jù)獲得系統(tǒng)（DAS）中有哪些？
答案： 多環(huán)需分下列幾種情況：
⑴每道圓環(huán)間距相等，多由A/D板引起。
⑵多環(huán)集中在圖像中心部分，表明X線管...
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【簡(jiǎn)答題】第三代CT機(jī)中如何判斷由DSA系統(tǒng)產(chǎn)生單環(huán)狀偽影的故障點(diǎn)？
答案： 單環(huán)多由通道放大器或探測(cè)器產(chǎn)生，可通過(guò)互換通道板的方法，壓縮故障點(diǎn)。
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