A.減少洪水層厚度變化對(duì)圖像的影響
B.提高缺陷深度的測(cè)量精度
C.提高缺陷長(zhǎng)度的測(cè)量精度
D.以上都對(duì)
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A.4個(gè)
B.8個(gè)
C.12個(gè)
D.16個(gè)
A.數(shù)字化樣本的間隔是0.01μs,樣本數(shù)量為2000個(gè)
B.數(shù)字化樣本的間隔是0.02μs,樣本數(shù)量為1000個(gè)
C.數(shù)字化樣本的間隔是0.04μs,樣本數(shù)量為800個(gè)
D.數(shù)字化樣本的間隔是0.05μs,樣本數(shù)量為500個(gè)
A.信號(hào)非常弱或探頭距離記錄系統(tǒng)非常遠(yuǎn)時(shí)
B.頻率非常高時(shí)
C.工件厚度非常大時(shí)
D.粗晶材料檢測(cè)時(shí)
A.0到255
B.0到1023
C.0到4095
D.0到8192
A.5MHz的高通濾波器和20MHz的低通濾波器
B.5MHz的低通濾波器和20MHz的高通濾波器
C.3MHz的高通濾波器和15MHz的低通濾波器
D.3MHz的低通濾波器和15MHzr的高通濾波器
最新試題
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測(cè)的是()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
探頭的分辨力()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()