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規(guī)準儀法測定中需要先目測挑出接近立方體形狀的規(guī)則顆粒,將目測有可能屬于針片狀顆粒的集料按所規(guī)定的粒級用規(guī)準儀逐粒對試樣進行針狀顆粒鑒定,挑出顆粒長度大于針狀規(guī)準儀上相應間距而不能通過者,為針狀顆粒。
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規(guī)準儀法測定中需要將通過針狀規(guī)準儀上相應間距的非針狀顆粒逐粒對試樣進行片狀顆粒鑒定,挑出厚度小于片狀規(guī)準儀上相應孔寬能通過者,為片狀顆粒。
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規(guī)準儀法測定中,需要稱量由各粒級除去挑出的針狀顆粒和片狀顆粒后的質(zhì)量,其總質(zhì)量為m
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。
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