二次波檢測是一種特殊的檢測工藝，以下關(guān)于二次波檢測的做敘述，哪一條是錯誤的（）

探頭的分辨力（）

一個均勻的輻射光束強度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質(zhì)，其強度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

對于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時是不會產(chǎn)生特征X射線的。

超聲波斜探頭的K值等于（）的正切值。

若評片燈亮度增為原來的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>

對于平行于檢測面的缺陷，一般采用（）檢測。

在筒身外壁做曲面周向探傷時（r、R為簡體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）

不同材料的相對吸收系數(shù)（）

射線照片上細節(jié)影像的可識別性主要決定于（）