A.缺陷位置的縱坐標(biāo)和橫坐標(biāo) B.缺陷深度 C.缺陷的水平距離 D.探頭與焊縫間的距離
A.材料晶粒粗大 B.波速不均勻 C.不適用頻率低的探頭 D.聲特性阻抗變化大
A.底波降低或消失 B.有較高的“噪聲”顯示 C.使超聲波穿透力降低 D.以上全部