A.盡可能提高儀器增益; B.利用被檢件的底面回波 C.利用被檢件的側(cè)壁回波; D.利用被檢件的孔壁回波。
A.掃查區(qū)域有過多的耦合劑; B.斜楔磨損; C.探頭掃查位置或方向偏移; D.以上都有可能。
A.避免漏掉任何顯示信號(hào); B.避免漏掉報(bào)警閘門范圍內(nèi)的任何顯示信號(hào); C.避免漏掉觸發(fā)報(bào)警的任何顯示信號(hào); D.更合理的確定靈敏度水平。