A.較低頻率的探頭和較粘的耦合劑
B.較高頻率的探頭和較粘的耦合劑
C.較高頻率的探頭和粘度較小的耦合劑
D.較低頻率的探頭和粘度較小的耦合劑
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A.CSK-ⅠA試塊
B.CSK-ⅡA試塊
C.CSK-ⅢA試塊
D.CSK-ⅣA試塊
A.半年
B.一年
C.兩年
D.三年
A.頻率和波長
B.厚度和傳播時(shí)間
C.彈性模量和密度
D.化學(xué)性質(zhì)與磁導(dǎo)率
A.缺陷取向
B.缺陷指示長度
C.缺陷波幅和傳播時(shí)間
D.以上全部
A.2.5
B.3
C.2
D.1
最新試題
技術(shù)監(jiān)督工作必須落實(shí)完善的()機(jī)制。
光譜分析按結(jié)果準(zhǔn)確性可分為()
以下屬于連接金具型式試驗(yàn)的試驗(yàn)項(xiàng)目有()
顯微鏡鍍層測厚法缺點(diǎn)是()
金具的機(jī)械載荷試驗(yàn),加載到(),并保持1分鐘,無永久變形,并在達(dá)到()金具沒有破壞,則載荷試驗(yàn)通過。
用X射線熒光光譜儀對變電站密閉箱體和隔離開關(guān)軸銷304不銹鋼光譜分析時(shí),判斷材質(zhì)是否符合要求應(yīng)重點(diǎn)關(guān)注()元素。
DR檢測技術(shù)與常規(guī)射線檢測方法相比,其具有特點(diǎn)是()
技術(shù)監(jiān)督辦公室針對技術(shù)監(jiān)督工作過程中發(fā)現(xiàn)的具有()的問題及時(shí)發(fā)布技術(shù)監(jiān)督工作預(yù)警單。
以下關(guān)于射線檢測特點(diǎn)的敘述,正確的是()
光譜分析()材料時(shí),分析面不宜用砂輪機(jī)或砂紙打磨處理。