A.使用X電容值0.1uF
B.使用X電容值1uF
C.使用X電容值10uF
D.沒(méi)使用X電容
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A.Aa：不生熱試件溫度驟變法
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C.Ac：生熱試件溫度驟變法
D.Ad：生熱試件溫度漸變法
A.定頻振動(dòng)
B.掃頻振動(dòng)
C.穩(wěn)態(tài)振動(dòng)
D.瞬態(tài)振動(dòng)
A.12Vac
B.12Vdc
C.10Vac
D.20Vac
A.電源線的縱向位移量不能超過(guò)2mm
B.絕緣是否崩潰
C.電源線連接處沒(méi)有明顯變形
D.爬電距離和爬電間隙不得減小到小于2.10的規(guī)定值
A.溫升測(cè)試
B.封孔測(cè)試
C.電路異常測(cè)試
D.溫濕度存儲(chǔ)測(cè)試
最新試題
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請(qǐng)列出GB/T 2423.1-2008低溫試驗(yàn)的三種試驗(yàn)類型并說(shuō)明他們之間的區(qū)別（試驗(yàn)樣品類型、過(guò)程是否通電、選用氣流速度三方面）。
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