單項(xiàng)選擇題以下有關(guān)底面回波高度法說法不正確的是：（）。
A.底面回波高度法適用于上、下面與入射聲束垂直的工件
B.底面回波高度法適用于缺陷反射面大于入射聲束截面的工件
C.底面回波高度降低量與缺陷的大小有關(guān)，缺陷越大，底波降低量越大；缺陷越小，底波降低量也越小
D.底面回波高度法不能明確地給出缺陷的尺寸
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1.單項(xiàng)選擇題在不同方向上檢測，其缺陷回波高度顯著不同。在垂直于缺陷方向檢測時(shí)，缺陷回波高；在平行于缺陷方向檢測，缺陷回波低，甚至無缺陷回波。這類缺陷一般為（）。
A.體積型缺陷
B.平面型缺陷
C.點(diǎn)狀缺陷
D.密集型缺陷
2.單項(xiàng)選擇題橫波斜探頭法超聲檢測時(shí)，通常采用雙探頭測定耦合損耗所使用的人工反射體是（）。
A.試塊棱角
B.長橫孔
C.平底孔
D.大平底
3.單項(xiàng)選擇題A.V.G 曲線中，字母G 代表的是什么意思（）。
A.歸一化距離
B.歸一化當(dāng)量大小
C.增益
D.波幅
4.單項(xiàng)選擇題以下哪種試塊不能用于調(diào)節(jié)檢驗(yàn)系統(tǒng)靈敏度：（）。
A.B 型試塊
B.CBⅡ試塊
C.CSⅡ試塊
D.CSK-ⅡA試塊
5.單項(xiàng)選擇題以下關(guān)于試塊的維護(hù)說法錯(cuò)誤的是：（）。
A.試塊應(yīng)在適當(dāng)?shù)牟课痪幪?br/>B.使用過程中注意反射體內(nèi)的油污和銹蝕
C.注意防止試塊變形
D.平板試塊盡可能平放
最新試題
按照ASME 規(guī)范要求可以用來作為目視檢驗(yàn)靈敏度試樣的是：（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
裝配時(shí)預(yù)緊力、扭矩過大或在使用中過載，產(chǎn)生塑性變形而導(dǎo)致螺栓局部截面減小屬于螺栓螺母運(yùn)行缺陷中的哪種：（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
圖像傳導(dǎo)束光纖的直徑一般在：（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
下列屬于在役蒸汽發(fā)生器二次側(cè)外部目視檢驗(yàn)的是：（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
下面視頻內(nèi)窺鏡測量技術(shù)，哪種不是陰影測量法：（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
當(dāng)板上有水或油時(shí)，蘭姆波的衰減顯著增大。
題型：判斷題
關(guān)于磁粉檢驗(yàn)的局限性的敘述，不正確的是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
關(guān)于毫特斯拉計(jì)的敘述，錯(cuò)誤的是：（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
磁化方法按磁化方向分類，可分為哪幾類？能檢測哪些方向的缺陷？
題型：問答題
無損檢驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)之一在于能不損害被檢件的使用性能而確定被檢件的質(zhì)量。
題型：判斷題